<<Надёжность и отказустойчивость вычислительных систем и сетей>>
1. Расчёт систем с тестовым контролем.
1 -- работает.
0 -- отказ.
0* -- неконтролируемый отказ.
Т -- тестирование.
Т* -- тестирование при отказе.
Считаем, что контроль 100%.
Т_тест -- время
m0 -- интенсивность тестирования.
g
В итоге, получили, что при l0 = 0.043 P0 максимальна, а P3 минимальна.
2. Расчёт вычислительного кластера.
Количество приборов в кластере.
Интенсивность работы ремонтника с одним узлом.
Ищем новые значения вероятеостей и учётом кластера.